6月13日的Home报告称，微LED是下一代高端显示技术的关键组成部分。配备了微型LED的Wafers应达到100％的收率，否则这将造成巨大的修复终端产品的成本。据新华社报道，天津大学精确测试技术和工具的国家主要实验室以及精密仪器学院的感知科学与工程系的团队摧毁了微型LED LED WAFER测试的瓶颈，并实现了高通量测试，并实现了高通量的WAFER，并在此领域中充满了技术动力，并填补了该领域的技术动力。据报道，技术已经开始在天凯高等教育科学技术创新公园的生产力。将来，它将提供批处理解决方案，iDomentic Micro LED的损失和低成本是国内微型，并进一步扩大了灵活电子技术的应用领域。简而言之，一些传统发现晶圆产量的方法，例如“铁灌木玉”，这将对晶圆表面造成不可逆转的物理损害；有些人可能只“几乎看着它”，而丢失的检测率和误差检测率更高。在这方面，研究团队首次提出了一种基于灵活的电子技术的发现方法。探针的三维结构柔性阵列在测得的物体的形态上具有自适应变形，其特征“柔软性在硬度上成功”，并以0.9兆帕的“呼吸压力”触及了晶圆表面。黄小教授说：“这项技术的探测接触压力是一千喇嘛，一千个传统的严格探针。它不仅不会导致晶圆磨损，而且还降低了探测本身的磨损。在100万个接触尺寸之后，调查仍然是“老式的”。此外，该团队还开发了一个测量系统，还开发了一个测量系统。DS至三维灵活性。通过使用探针和发现系统，我们为良好控制过程和微型LED产品的出色产品筛选提供了基本工具。“最多一个，技术差距填补了微型LED电致发光检测，并为晶状的其他复杂发现提供了革命性的技术解决方案。通过连续扩展探头阵列和检测通道，它可以在WAIDEREN-WAFTERTION中进行。生物光谱等将来。